Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, Band 65)

Microscopy

von: Sascha Sadewasser · Thilo Glatzel

Taschenbuch

ISBN-13: 978-3-030-09298-6

ISBN-10: 3-030-09298-4

Springer · Januar 2019

Siehe auch:
2018Gebundene AusgabeKelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, Band 65)