von: Sascha Sadewasser · Thilo GlatzelTaschenbuch Details (Deutschland) Details (USA) Details (Großbritannien) ISBN-13: 978-3-030-09298-6 ISBN-10: 3-030-09298-4 Springer · Januar 2019 |
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2018 | Gebundene Ausgabe | Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, Band 65) |