Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon. Computational Microelectronics

von P. Pichler Springer, Wien · 2004 Gebunden Details (Österreich/Schweiz/Deutschland) Details (Vereinigte Staaten) Details (Großbritannien) Details (Kanada) Details (Frankreich) ISBN-13: 978-3-211-20687-4 ISBN-10: 3-211-20687-6