Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Massenspektrometrie

von: M. Grasserbauer · H.J. Dudek · Maria F. Ebel

Gebunden

ISBN: 978-3-540-15050-3

ISBN-10: 3-540-15050-1

Springer · 1986
Siehe auch:
1986Unknown BindingAngewandte Oberflächenanalyse: Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German Edition)