X- Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987 (Springer Series in Optical Sciences)

von: David Sayre · Malcolm Howells · Janos Kirz

Springer-Verlag GmbH · 1988

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ISBN-13: 978-3-540-19392-0

ISBN-10: 3-540-19392-8