Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

von Titu-Marius I. Băjenescu Gebunden Details (Deutschland) ISBN: 978-3-658-22177-5 ISBN-10: 3-658-22177-1 Springer Vieweg · März 2020