VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC ... and Communication Technology (483), Band 483)

von: Youngsoo Shin · Chi Ying Tsui · Jae-Joon Kim · Kiyoung Choi · Ricardo Reis Gebunden Details (Deutschland) (siehe auch: Kindle Ausgabe) Details (USA) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Großbritannien) (siehe auch: eBook (Kindle)) ISBN: 978-3-319-46096-3 ISBN-10: 3-319-46096-X Springer · 2016