Nachweis und Besichtigung des Verletzungsgegenstandes im deutschen Patentrecht (Geistiges Eigentum und Wettbewerb (GEW))

Besichtigung

von Tilman Müller-Stoy

Broschiert

ISBN: 978-3-452-26845-7

ISBN-10: 3-452-26845-4

Heymanns, Carl · 2008