X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis
von:
Deborah D Chung · Patrick W Detlaven ·
H Arnold
· Debastis Ghosh
Gebunden
Details (
Deutschland
)
ISBN-13: 978-3-527-27842-8
ISBN-10: 3-527-27842-7
Wiley-VCH
· 1993