Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 (Springer Series in Chemical Physics (36), Band 36)

Benninghoven

von: A. Benninghoven · J. Okano · R. Shimizu · H.W. Werner

Gebunden

ISBN-13: 978-3-540-13316-2

ISBN-10: 3-540-13316-X

Springer · 1984
Siehe auch:
2012TaschenbuchSecondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 (Springer Series in Chemical Physics, Band 36)