Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics, Band 209)

Ellipsometry

von Mathias Schubert

Gebunden

ISBN-13: 978-3-540-23249-0

ISBN-10: 3-540-23249-4

Springer · 2004

Siehe auch:
2010TaschenbuchInfrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics)