Prüfstandentwicklung: Für die mechanische Zuverlässigkeitsuntersuchung von flexiblen Leiterplattenstrukturen neuroprothetischer Implantate

von Iris Mauersberger Taschenbuch Details (Deutschland) ISBN-13: 978-3-639-03097-6 ISBN-10: 3-639-03097-4 VDM Verlag Dr. Müller · 2008