Contouringverfahren mit getrennten Laserquellen: Drei dimensionale Objekterfassung mittels Elektronischer Speckle Pattern Interferometrie

Interferometrie

von Stefan Dickl

Taschenbuch

ISBN-13: 978-3-639-04146-0

ISBN-10: 3-639-04146-1

VDM Verlag Dr. Müller · 2008