Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach (NanoScience and Technology)

von M. Alexe Taschenbuch Details (Deutschland) (siehe auch: Kindle Ausgabe) Details (USA) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Großbritannien) (siehe auch: eBook (Kindle)) ISBN-13: 978-3-642-05844-8 ISBN-10: 3-642-05844-2 Springer Berlin Heidelberg · 2010