Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization (NanoScience and Technology)
von
Various
Taschenbuch
Details (
Deutschland
)
ISBN-13: 978-3-642-09341-8
ISBN-10: 3-642-09341-8
Springer
· 2010
Siehe auch (möglicherweise von anderen Autoren):
2008
Gebundene Ausgabe
Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization (NanoScience and Technology)