Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International ... Band I Physikalisch-Technischer Teil

Internationaler

von: W. Bargmann · G. Möllenstedt · H. Niehrs · D. Peters · E. Ruska · C. Wolpers

Taschenbuch

Details (Deutschland)

ISBN: 978-3-642-49481-9

ISBN-10: 3-642-49481-1

Springer · 1960