IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie ... 1958: Band 1: Physikalisch-technischer Teil

Internationaler

von: G. Möllenstedt · H. Niehrs · E. Ruska

Taschenbuch

ISBN-13: 978-3-642-50196-8

ISBN-10: 3-642-50196-6

Springer · 2014