Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Oberflaechenanalyse

von Manfred Grasserbauer

Taschenbuch

ISBN-13: 978-3-642-70178-8

ISBN-10: 3-642-70178-7

Springer Berlin Heidelberg · 1986

Siehe auch (möglicherweise von anderen Autoren):
1986Unknown BindingAngewandte Oberflächenanalyse: Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German Edition)