X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987

Proceedings

von: David Sayre · Malcolm Howells · Janos Kirz

Taschenbuch

ISBN: 978-3-662-14489-3

ISBN-10: 3-662-14489-1

Springer · 2014
Siehe auch:
2013TaschenbuchX-Ray Microscopy II: "Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987" (Springer Series in Optical Sciences, Band 56)
1988Gebundene AusgabeX-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987 (Springer Series in Optical Sciences, Band 56)