Zuverlässigkeit und Entwurf: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München

von Mikro- u.Feinwerktechnik (GMM) VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik Taschenbuch Details (Deutschland) ISBN-13: 978-3-8007-3023-0 ISBN-10: 3-8007-3023-5 VDE VERLAG · 2007