Zuverlässigkeit und Entwurf: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt

von Mikro- und Feinwerktechnik (GMM) VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik Taschenbuch Details (Deutschland) ISBN-13: 978-3-8007-3119-0 ISBN-10: 3-8007-3119-3 VDE VERLAG · 2008