Zuverlässigkeit und Entwurf: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart (GMM-Fachbericht)

Zuverlaessigkeit

von: Mikro- und Feinwerktechnik (GMM) VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik · Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)

Taschenbuch

ISBN: 978-3-8007-3178-7

ISBN-10: 3-8007-3178-9

VDE VERLAG · 2009